SN74ABT8245DWR

IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
SN74ABT8245DWR P1
SN74ABT8245DWR P1
Resimler sadece referans amaçlıdır.
Ürün detayları için Ürün Teknik Özellikleri bölümüne bakınız.

Texas Instruments ~ SN74ABT8245DWR

Parça numarası
SN74ABT8245DWR
Üretici firma
Texas Instruments
Açıklama
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu
Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
Veri Sayfası
- SN74ABT8245DWR PDF online browsing
Aile
Mantık - Özel Mantık
  • Stokta $ Adet Adet
  • Referans fiyatı : submit a request

Görüntülenenlerden daha büyük miktarlarda Teklif İsteği gönderin.

Ürün parametresi

Tüm ürünler

Parça numarası SN74ABT8245DWR
Parça Durumu Active
Mantık Tipi Scan Test Device with Bus Transceivers
Besleme gerilimi 4.5 V ~ 5.5 V
Bit Sayısı 8
Çalışma sıcaklığı -40°C ~ 85°C
Montaj tipi Surface Mount
Paket / Durum 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Tedarikçi Aygıt Paketi 24-SOIC

ilgili ürünler

Tüm ürünler