SN74ABT8245DWR

IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
SN74ABT8245DWR P1
SN74ABT8245DWR P1
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Texas Instruments ~ SN74ABT8245DWR

Número de pieza
SN74ABT8245DWR
Fabricante
Texas Instruments
Descripción
IC SCAN TEST DEV W/OBT 24-SOIC
Estado sin plomo / Estado RoHS
Sin plomo / Cumple con RoHS
Ficha de datos
- SN74ABT8245DWR PDF online browsing
Familia
Lógica - Lógica de especialidades
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Número de pieza SN74ABT8245DWR
Estado de la pieza Active
Tipo de lógica Scan Test Device with Bus Transceivers
Voltaje de suministro 4.5 V ~ 5.5 V
Cantidad de bits 8
Temperatura de funcionamiento -40°C ~ 85°C
Tipo de montaje Surface Mount
Paquete / caja 24-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Paquete de dispositivo del proveedor 24-SOIC

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