SN74ABTH18652APM

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
SN74ABTH18652APM P1
SN74ABTH18652APM P1
Resimler sadece referans amaçlıdır.
Ürün detayları için Ürün Teknik Özellikleri bölümüne bakınız.

Texas Instruments ~ SN74ABTH18652APM

Parça numarası
SN74ABTH18652APM
Üretici firma
Texas Instruments
Açıklama
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 64-LQFP
Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu
Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
Veri Sayfası
- SN74ABTH18652APM PDF online browsing
Aile
Mantık - Özel Mantık
  • Stokta $ Adet Adet
  • Referans fiyatı : submit a request

Görüntülenenlerden daha büyük miktarlarda Teklif İsteği gönderin.

Ürün parametresi

Tüm ürünler

Parça numarası SN74ABTH18652APM
Parça Durumu Active
Mantık Tipi Scan Test Device With Transceivers And Registers
Besleme gerilimi 4.5 V ~ 5.5 V
Bit Sayısı 18
Çalışma sıcaklığı -40°C ~ 85°C
Montaj tipi Surface Mount
Paket / Durum 64-LQFP
Tedarikçi Aygıt Paketi 64-LQFP (10x10)

ilgili ürünler

Tüm ürünler