SN74ABT8543DW

IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
SN74ABT8543DW P1
SN74ABT8543DW P1
Resimler sadece referans amaçlıdır.
Ürün detayları için Ürün Teknik Özellikleri bölümüne bakınız.

Texas Instruments ~ SN74ABT8543DW

Parça numarası
SN74ABT8543DW
Üretici firma
Texas Instruments
Açıklama
IC SCAN TEST DEV/TXRX 28-SOIC
Kurşunsuz Durumu / RoHS Durumu
Kurşunsuz / RoHS Uyumlu
Veri Sayfası
- SN74ABT8543DW PDF online browsing
Aile
Mantık - Özel Mantık
  • Stokta $ Adet Adet
  • Referans fiyatı : submit a request

Görüntülenenlerden daha büyük miktarlarda Teklif İsteği gönderin.

Ürün parametresi

Tüm ürünler

Parça numarası SN74ABT8543DW
Parça Durumu Active
Mantık Tipi Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Besleme gerilimi 4.5 V ~ 5.5 V
Bit Sayısı 8
Çalışma sıcaklığı -40°C ~ 85°C
Montaj tipi Surface Mount
Paket / Durum 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Tedarikçi Aygıt Paketi 28-SOIC

ilgili ürünler

Tüm ürünler