SN74ABT8646DWRG4

IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
SN74ABT8646DWRG4 P1
SN74ABT8646DWRG4 P1
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Texas Instruments ~ SN74ABT8646DWRG4

Numéro d'article
SN74ABT8646DWRG4
Fabricant
Texas Instruments
La description
IC SCAN TEST DEVICE 28SOIC
Statut sans plomb / Statut RoHS
Sans plomb / Conforme RoHS
Fiche technique
- SN74ABT8646DWRG4 PDF online browsing
Famille
Logique - Logique spécialisée
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Numéro d'article SN74ABT8646DWRG4
État de la pièce Obsolete
Type de logique Scan Test Device with Bus Transceiver and Registers
Tension d'alimentation 4.5 V ~ 5.5 V
Nombre de bits 8
Température de fonctionnement -40°C ~ 85°C
Type de montage Surface Mount
Paquet / cas 28-SOIC (0.295", 7.50mm Width)
Package de périphérique fournisseur 28-SOIC

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