SN74ABT8952DLR

IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP
SN74ABT8952DLR P1
SN74ABT8952DLR P1
Bilder dienen nur als Referenz.
Produktdetails finden Sie unter Produktspezifikationen.

Texas Instruments ~ SN74ABT8952DLR

Artikelnummer
SN74ABT8952DLR
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN TESST DEVICE 28-SSOP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
SN74ABT8952DLR.pdf SN74ABT8952DLR PDF online browsing
Familie
Logik - Speziallogik
  • Auf Lager $ Anzahl Stk
  • Referenzpreis : submit a request

Senden Sie eine Angebotsanfrage für größere Mengen als angezeigt.

Produktparameter

Alle Produkte

Artikelnummer SN74ABT8952DLR
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Registered Bus Transceiver
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 8
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 28-BSSOP (0.295", 7.50mm Width)
Lieferantengerätepaket 28-SSOP

Verwandte Produkte

Alle Produkte