SN74ABT18640DGGR

IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
SN74ABT18640DGGR P1
SN74ABT18640DGGR P1
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Produktdetails finden Sie unter Produktspezifikationen.

Texas Instruments ~ SN74ABT18640DGGR

Artikelnummer
SN74ABT18640DGGR
Hersteller
Texas Instruments
Beschreibung
IC SCAN-TEST-DEV/TXRX 56-TSSOP
Bleifreier Status / RoHS-Status
Bleifrei / RoHS-konform
Datenblatt
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Familie
Logik - Speziallogik
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Produktparameter

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Artikelnummer SN74ABT18640DGGR
Teilstatus Obsolete
Logiktyp Scan Test Device with Inverting Bus Transceivers
Versorgungsspannung 4.5 V ~ 5.5 V
Anzahl der Bits 18
Betriebstemperatur -40°C ~ 85°C
Befestigungsart Surface Mount
Paket / Fall 56-TFSOP (0.240", 6.10mm Width)
Lieferantengerätepaket 56-TSSOP

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